Zoekresultaten
Resultaat 1 - 2 (van 2)
F.P.M. Beenker | R.G. Bennetts | A.P. Thijssen Testability concepts for digital ICs
the macro test approach
Non-fictie
Engels | 212 pagina's | Kluwer Academic Publishers, Dordrecht [etc.] | 1995
Gedrukt boek
F.P.M. Beenker Testability concepts for digital ICs
Non-fictie
Engels | 213 pagina's | Philips Electronics, [Eindhoven] | 1994
Gedrukt boek