Ga direct naar de inhoud, het zoekveld of het hoofdmenu.

W.R. Thurber Semiconductor measurement technology

the relationship between resistivity and dopant density for phosphorus- and boron-doped silicon

Gedrukt boek

Taal
Engels
Serie
NBS Special Publications

Meer informatie

Uitgever
NBS, Washington, D.C.
Verschenen
1981
Kenmerken
48 pagina's

Je leent dit boek bij je eigen Bibliotheek. Vul de vier cijfers van je postcode in en vind je Bibliotheek.

Kranten­artikelen

Bekijk in Delpher

Praat mee op

de Bibliotheek

Over deze site